集成電路冷熱沖擊試驗(yàn)箱
更新時(shí)間:2024-07-08
冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)能模擬高溫與低溫之間的瞬間變化環(huán)境。從而判斷產(chǎn)呂的可靠性及穩(wěn)定性能等參數(shù)是否合格。將提供給您預(yù)測(cè)和改進(jìn)產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性依據(jù)。 用于檢測(cè)電子、汽車、橡膠、塑膠、航太科技、科技及通信器材等產(chǎn)品在反復(fù)冷熱變化下的抵抗能力。
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